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    為了滿足現代材料研究的挑戰,Swift開發了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統,比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD,樣品加熱和冷卻,可實現原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多重測試模式,實現原位復合載荷測試薄膜及細絲力學實驗。

    更新時間:2023-06-17
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