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俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡

簡(jian)要(yao)描述:俄羅斯產全功能(neng)掃(sao)描探針原(yuan)子力顯(xian)微鏡NTEGRA Prima為(wei)你(ni)的(de)研(yan)究帶來無限自由。該系(xi)統既可(ke)以用來研(yan)究小尺寸的(de)、也(ye)可(ke)以大尺寸的(de)、甚至巨大的(de)樣品。NT-MDT的(de)雙掃(sao)描模式(shi)(DualScan)使SPM掃(sao)描范圍可(ke)達到200?m,掃(sao)描頭作為(wei)一個可(ke)移動的(de)、獨立裝置,使得(de)測量不(bu)受樣品尺寸限制成(cheng)為(wei)可(ke)能(neng)

  • 產品型(xing)號:NTEGRAPrima
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時(shi)間:2021-04-01
  • 訪  問  量(liang):3752
詳情介紹(shao)
品牌其他品牌儀器種類原子力顯微鏡
價格區間面議產地類別進口
應用領域生物產業,電子

俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡NTEGRA Prima的(de)(de)(de)(de)(de)標準配置包括(kuo)在大(da)氣環境(jing)甚至液體環境(jing)中得到原(yuan)子(zi)分辨圖(tu)像(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)基本配置。NTEGRA Prima不僅提供了(le)所(suo)有傳統(tong)技術,例如形貌(mao)、相位、磁力測量(liang)(liang),它(ta)(ta)還包括(kuo)許多NT-MDT*的(de)(de)(de)(de)(de)技術,例如,NT-MDT掃(sao)描電(dian)(dian)(dian)容顯微(wei)鏡,它(ta)(ta)以(yi)(yi)*的(de)(de)(de)(de)(de)精度(1aF)對(dui)樣品表(biao)面電(dian)(dian)(dian)荷載流子(zi)濃(nong)度的(de)(de)(de)(de)(de)變化進行(xing)(xing)成像(xiang)(xiang),創造(zao)了(le)電(dian)(dian)(dian)容測量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)標準。NT-MDT的(de)(de)(de)(de)(de)另一項專有技術原(yuan)子(zi)力聲學顯微(wei)鏡(AFAM),是對(dui)彈性進行(xing)(xing)高級研究的(de)(de)(de)(de)(de)工具,它(ta)(ta)只需附加一個簡單易安(an)裝的(de)(de)(de)(de)(de)附件。AFAM利用局域(yu)彈性,可以(yi)(yi)對(dui)疇和結構進行(xing)(xing)直接(jie)的(de)(de)(de)(de)(de)、非(fei)破壞(huai)性的(de)(de)(de)(de)(de)成像(xiang)(xiang),還可以(yi)(yi)對(dui)楊氏(shi)模(mo)量(liang)(liang)和其它(ta)(ta)如粘彈力、摩擦力在內的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面參數進行(xing)(xing)直接(jie)、定(ding)量(liang)(liang)地測量(liang)(liang)。

在(zai)原(yuan)子(zi)尺度(du)工作(zuo)時,定位(wei)精度(du)非(fei)常的關鍵(jian)。為了確保精度(du),所有NTEGRA 系列產品都特(te)別的設計了內(nei)置、閉環的電(dian)容傳感(gan)器。即使當掃(sao)描(miao)(miao)區域小到50×50nm,因其超低的噪音水(shui)平(ping)(典型值(zhi)小于0.1nm)仍然能在(zai)使用(yong)內(nei)置傳感(gan)器的情況(kuang)下對樣品表面(mian)進(jin)行成像和(he)修飾。可靠的掃(sao)描(miao)(miao)反饋確保可高精度(du)的定量(liang)測(ce)量(liang)針尖和(he)樣品表面(mian)間的相互作(zuo)用(yong)力。

對于NTEGRA而(er)言,NTEGRA Prima 僅(jin)(jin)僅(jin)(jin)只是(shi)(shi)一(yi)個(ge)基礎(chu)、核(he)心,它(ta)所創建的(de)(de)(de)(de)納米實驗室設計了(le)*開放的(de)(de)(de)(de)硬件、軟(ruan)件和(he)信(xin)號(hao)集(ji)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)結構,為與其(qi)它(ta)儀器集(ji)成(cheng)提供了(le)接(jie)口和(he)平臺。它(ta)可(ke)以和(he)高級(ji)光譜儀、超(chao)薄切片機、大規模(mo)篩(shai)選(high-throughput screening)以及加熱附件等結合,形成(cheng)新(xin)一(yi)代的(de)(de)(de)(de)集(ji)成(cheng)分析儀器。無論你(ni)需要的(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)簡單的(de)(de)(de)(de)還是(shi)(shi)更加的(de)(de)(de)(de)完善(shan)和(he)復雜的(de)(de)(de)(de)SPM,NTEGRA Prima都(dou)能提供良好的(de)(de)(de)(de)平臺,保(bao)證(zheng)你(ni)成(cheng)功的(de)(de)(de)(de)成(cheng)像(xiang)和(he)測(ce)量。

俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡特色介紹

裝有一個帶集(ji)成電(dian)容傳感器的(de)可(ke)更換掃(sao)描器,可(ke)獲(huo)得的(de)掃(sao)描范圍:100x100x12 µm

 雙掃(sao)(sao)描模式(DualScan)是NT-MDT*的(de)(de)技術,它采用一個可更換的(de)(de)底部掃(sao)(sao)描器(100x100x12µm)和一個頂部掃(sao)(sao)描器(100x100x10μm),使總的(de)(de)掃(sao)(sao)描范圍達到(dao):200x200x22μm;

 XY非線(xian)性:校正(zheng)后(hou),峰(feng)峰(feng)值0.05%,在整個掃描范圍內,X-Y平面的定位(wei)精度(du)保(bao)持在10-20納米(mi)內;

 NTEGRA的(de)(de)控制器(qi)和機械部件可(ke)(ke)以在(zai)高(gao)達5 MHz的(de)(de)高(gao)頻下工(gong)作,因此儀(yi)器(qi)可(ke)(ke)以使用高(gao)共振頻率的(de)(de)懸臂,從而得(de)到更加(jia)*的(de)(de)圖像;同樣這使得(de)原子力聲學顯微鏡(AFAM)的(de)(de)應用成(cheng)為可(ke)(ke)能(neng)。該(gai)系統可(ke)(ke)以用于研究(jiu)高(gao)電(dian)阻材料,例如半導體(ti)上的(de)(de)薄(bo)膜絕緣(yuan)層、DLC和壓電(dian)薄(bo)膜、導電(dian)聚合(he)物等(deng)。

低熱漂移和熱穩定性(特殊材(cai)料:鈦)

友(you)好的操作軟件和強大的腳本語(yu)言控制——NT-MDT*

光學(xue)垂直方向分(fen)辨(bian)可達0.4um (使用高(gao)數(shu)值孔徑(jing)的頭部), 可倒置(zhi)觀察樣品(pin)——NT-MDT*

整體設計的液(ye)體池,可選配加(jia)熱(re)裝置和超小液(ye)體池(200微升)

納米刻蝕操作軟件

整體設計(ji)的(de)防(fang)磁、防(fang)電(dian)、防(fang)聲屏蔽(bi)罩

低真空操作環境可選

內(nei)置濕(shi)度(du)、溫度(du)傳感器,LCD液晶(jing)顯示

通氣孔設(she)計可提供氣體控制

對樣品尺寸無限制

3.應用介紹

生物學和生物技術
蛋白質、 DNA、病毒、細菌、組織等
材料科學
表面形貌形態、壓電性質、粘滯力分析、摩擦特性分析等
磁材料
磁疇結構成像、觀察因外部磁場引起的磁性的反轉、不同溫度下的磁結構變化等
半導體和電學性質測量
硅片等材料的表面形貌、表面電勢和電容測量、表面電荷分布圖、摻雜濃度分析、失效分析(局域導電性和絕緣層漏電流)
聚合物和有機薄膜
球狀或柱狀晶體、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒、LB 膜、有機薄膜等
數據存儲
CD, DVD 盤
納米材料
納米粉體、納米復合材料、納米多孔材料、
納米結構材料
   富勒烯、碳納米(mi)(mi)管、納米(mi)(mi)絲、納米(mi)(mi)膠囊

納米電子學
量子點、納米線、量子結構
納米機械學
AFM 納米刻蝕:力(直流電和交流電)、電流(局部陽極氧化)、STM 納米刻蝕
納米操縱
接觸力
 
1.      NTEGRA-Prima

NT-MDT*的雙掃描模式(shi)(DualScan)使總(zong)的掃描范圍達到:200x200x22μm,對樣品尺(chi)寸幾(ji)乎無限制

這(zhe)套(tao)系統可以用于(yu)研(yan)究高電(dian)阻的材料(liao),例如在(zai)半導體基體上的絕(jue)緣薄(bo)膜,DLC和壓(ya)電(dian)薄(bo)膜,導電(dian)聚(ju)合物等

This system can be used in research of high-resistance materials such as thin dielectric layers on semiconductors, DLC and piezo-films, conductive polymers etc.

2.      NTEGRA-Aura

NTEGRA Aura allows measurements in low vacuum environment,

Additional possibilities are provided by a temperature table with sample heating up to 300 oC degree Celsius and the accuracy of temperature maintenance 0.05 oC.
Measurements in a controlled gas atmosphere are possible as well.

3.      NTEGRA-Vita

可選用不(bu)同的(de)液(ye)(ye)體(ti)槽:密封(feng)的(de)化學穩定(ding)的(de)液(ye)(ye)體(ti)槽,可以(yi)進行升溫控制(zhi);用于(yu)在培養(yang)皿中進行操作的(de)封(feng)閉(bi)式液(ye)(ye)體(ti)槽;可更換的(de)加(jia)熱器。

Different liquid cells are available: hermetic chemically stable liquid flow cell with a possibility of the temperature control at elevated temperatures; closed liquid flow temperature controlled cell for operating with Petri dishes; replaceable heater

4.      NTEGRA-Maximus

NTEGRA Maximus 基座是(shi)一個(ge)帶有傳動平臺(tai)的(de)可(ke)更換的(de)*部件。樣品在50mm內可(ke)在XY方(fang)向上自由移(yi)動,且可(ke)以(yi)進行0-360度旋(xuan)轉。

NTEGRA Maximus basement is a changeable center unit with a motorized stage. Sample movement is possible within 50mm by X,Y and within 0-360 degrees under rotation

許多小樣品(pin)也(ye)可以在(zai) NTEGRA Maximus上進行自(zi)動測量,且提供高質量的成像效(xiao)果(guo)。

Automated measurements of many small samples are also possible with NTEGRA Maximus enabling high throughput screening.

5.      NTEGRA-Solaris

集成(cheng)到(dao)*基(ji)座(zuo)上的(de)倒置式顯微(wei)鏡使系(xi)統具有高(gao)(gao)的(de)剛性(xing),保證了系(xi)統的(de)穩定性(xing),從(cong)而不僅(jin)可(ke)以獲得高(gao)(gao)質(zhi)量的(de)成(cheng)像效果,且可(ke)進行長時間的(de)研究。

The integrating of the inverted microscope objective into the central base because of high mechanical rigidity provides stability of the system making quality images and long-term experiments possible

6.      NTEGRA-Spectra

通(tong)用的(de)PNL平臺為將掃描共聚焦(jiao)顯(xian)微(wei)鏡、常規的(de)AFM和分光鏡聯用提供(gong)了可(ke)(ke)能性,從而可(ke)(ke)以探測拉曼散(san)射光譜,進(jin)而可(ke)(ke)以得到很多與樣品化學組成有關的(de)復(fu)雜(za)信(xin)息。

The universal PNL platform provides the possibility to integrate scanning confocal scheme in combination with regular AFM and spectrometer to detect Raman scattering spectrum. This spectra may then be interpreted into complex information concerning chemical composition of the object.

7.      NTEGRA-Therma

的熱學(xue)頭部(bu)可(ke)提供非常低(di)的熱漂(piao)移(小于10 nm/°C),保證了針尖-樣品系統(tong)的穩定(ding)性(xing)。這樣可(ke)以對樣品表面選定(ding)的點進行長(chang)時間(jian)的研究(jiu)。

Special Thermo head provides extremely low thermal drift (less than 10 nm/癈) ensuring high stability of the tip-sample system. This allows long-term measurements to be done in pre-defined point on the specimen surface.

8.      NTEGRA-Tomo

超薄切片機可以制備用于原子力顯微鏡研究的納米片層和新鮮表面。因此,可以研究表面的物理性質和重構后的3維圖像
經過NTEGRA Tomo處理后(hou)的片狀樣品(pin)可(ke)以(yi)用(yong)于(yu)透射(she)電鏡(jing)分析。

Ultramicrotome makes nanoslices of a sample and a freshly cut surface is then measured by AFM. Thus, many physical properties of a surface are studied and 3D-volume imaging is available after the reconstruction.
After the NTEGRA Tomo operation sample slices stay available for TEM analysis



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