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原位拉伸臺

簡要描述:為了滿(man)足(zu)現代材(cai)料研究的挑戰,Swift開(kai)發了一系(xi)列*可定(ding)制的原位拉(la)伸試(shi)(shi)樣臺。這些(xie)拉(la)伸試(shi)(shi)樣臺適合多種顯(xian)微(wei)觀測系(xi)統,比如掃描電鏡(jing)、透(tou)射電鏡(jing)、光(guang)學顯(xian)微(wei)鏡(jing)、共(gong)聚焦顯(xian)微(wei)鏡(jing)等。支持(chi)EBSD,樣品加熱(re)和冷卻,可實(shi)(shi)現原位“拉(la)伸—剪切"、“壓縮—剪切"、“單軸拉(la)伸/壓縮"、“純剪切"及疲勞力(li)學測試(shi)(shi)等多重測試(shi)(shi)模式,實(shi)(shi)現原位復合載荷測試(shi)(shi)薄膜及細絲(si)力(li)學實(shi)(shi)驗。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更(geng)新時(shi)間:2021-04-16
  • 訪(fang)  問(wen)  量:1330
詳情介紹
品牌其他品牌價格區間面議
儀器種類其他應用領域化工,電子,航天,汽車,電氣


原位拉伸臺

Swift原(yuan)位(wei)拉伸試樣臺也(ye)可立使用測(ce)定材料(liao)力學參(can)數;同時由于結構緊湊微小、充分考慮了真(zhen)空兼(jian)容(rong)性和電磁兼(jian)容(rong)性,因此(ci)可實(shi)現與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射(she)線衍射(she)儀、原(yuan)子力顯微鏡等顯微成像設備的(de)(de)兼(jian)容(rong),所采用的(de)(de)超低速準靜態(tai)加載(zai)(zai)方式有利(li)于在成像儀器下對載(zai)(zai)荷作(zuo)(zuo)用下材料(liao)細微的(de)(de)變(bian)形(xing)損傷(shang)變(bian)化(hua)狀況進行(xing)連續(xu)的(de)(de)可視化(hua)原(yuan)位(wei)監測(ce),便于系統深入(ru)的(de)(de)研究揭示載(zai)(zai)荷作(zuo)(zuo)用、材料(liao)變(bian)形(xing)損傷(shang)機制與微觀結構變(bian)化(hua)間的(de)(de)規律(lv)。


原位拉伸臺應用

Swift拉伸試(shi)驗臺是通用的(de),能夠在各(ge)種材(cai)料上進行各(ge)種機械測(ce)試(shi)。在靜態或動態條件下(xia)觀察材(cai)料表面納米(mi)級微觀形態和結(jie)(jie)構變(bian)(bian)化。通過實(shi)時獲取的(de)載(zai)荷,形變(bian)(bian)和溫度等(deng)數據,并(bing)結(jie)(jie)合掃描(miao)電子顯微鏡(jing)提供的(de)材(cai)料微觀結(jie)(jie)構分析數據,實(shi)現(xian)了定量分析材(cai)料微觀力學性質,相變(bian)(bian)行為,取向變(bian)(bian)化,裂(lie)紋萌生和擴(kuo)展,材(cai)料疲(pi)勞和斷裂(lie)機制(zhi),材(cai)料彎(wan)曲(qu)機制(zhi),高溫蠕變(bian)(bian)性,分層,形成(cheng)滑移面以(yi)及脫落等(deng)現(xian)象(xiang)。

- 半導體器(qi)件,薄膜

- 硬質涂層,電鍍層

- 金(jin)屬材料(liao),陶瓷(ci)材料(liao)

- 玻璃,塊體材(cai)料(liao)

- 復合材(cai)料(liao)(liao),聚合物材(cai)料(liao)(liao)

- 電鍍層(ceng),釬(han)焊或焊接(jie)接(jie)頭

- 礦物,木材

- 有機材(cai)料(liao)等等



測試方(fang)法




拉(la)伸試(shi)樣臺型號


Swift開發了一系列基礎拉(la)伸(shen)試樣臺,可以(yi)實(shi)現*定(ding)制和增強,以(yi)適應(ying)任何(he)應(ying)用。


型號 A 傾斜臺




該模型設計了一個帶有旋轉(zhuan)和傾(qing)斜工作臺,測試樣(yang)品可以(yi)在任意一個0°平角或70°EBSD角度。標準加載裝置大加載力5KN,可升級10kN測壓元件。樣品臺行程26mm。


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型號 B 試驗臺



型號(hao)B試驗臺具有較低的外形系數以適合受限的SEM室,并且可以在0°或70 °EBSD下測試樣品。負載范圍可達5kN。樣品臺行程可達26mm。



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型號 C 試驗臺



   C型(xing)微型(xing)拉伸臺(tai)是專門為小型(xing)或(huo)臺(tai)式(shi)SEM開發的,并配置為在0°或(huo)70 °EBSD下測試(shi)樣品。負載范圍高達2kN。樣品臺(tai)行程可(ke)達16mm。


             




控制器和軟件


  Swift儀器的拉伸臺采用(yong)計(ji)算機控制(zhi)的工(gong)作流程設計(ji),使操作簡單高(gao)效。


控(kong)制器(qi)



Swift Instruments的控制器和軟件為拉(la)伸臺和其他(ta)選項提(ti)供了一個計算機界面(mian),并與運行Windows 10的臺式電(dian)腦、筆記本電(dian)腦和平板電(dian)腦兼容。


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軟件


程(cheng)序測(ce)試(shi)例程(cheng)通(tong)過一個拖放界面,能夠控制(zhi)力和溫度(du)。記錄試(shi)驗荷載、位移和溫度(du),自動計算(suan)應(ying)力和應(ying)變。測(ce)試(shi)數據可以導出進(jin)行外部分析。


   






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