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高精度臺式納米壓痕儀

簡(jian)要描述:iNano高精度臺式納(na)米(mi)(mi)壓痕儀是(shi)一(yi)種緊湊,用(yong)戶友好的(de)納(na)米(mi)(mi)機(ji)(ji)械(xie)測(ce)量系統(tong),設(she)計用(yong)于硬涂層,薄(bo)膜和少量材(cai)料(liao)。該系統(tong)旨在進(jin)行準確,可重(zhong)復的(de)納(na)米(mi)(mi)級機(ji)(ji)械(xie)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),包(bao)括壓痕,硬度,劃痕和通(tong)用(yong)納(na)米(mi)(mi)級測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。iNano具有(you)很(hen)大的(de)力和位(wei)移動(dong)態范圍(wei),可以施加高達50mN的(de)力來(lai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)薄(bo)膜和軟材(cai)料(liao)。模(mo)塊化(hua)選項(xiang)可滿(man)足(zu)多種應用(yong),包(bao)括材(cai)料(liao)特(te)性圖和高溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。

  • 產(chan)品型號:iNano
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間(jian):2021-06-01
  • 訪  問  量:2194
詳情(qing)介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口儀器種類納米壓痕儀
應用領域醫療衛生,地礦,電子,航天,綜合

高精度臺式納米壓痕儀主要功能:

靜態/動態納(na)米壓痕(hen):楊(yang)氏(shi)模(mo)量/硬(ying)度

連續剛度:高準度薄膜測(ce)試,楊氏模量(liang)/硬度,<100nm

DMA功能:橡(xiang)膠等粘(zhan)彈性(xing)材料存儲(chu)模(mo)量/損耗系數

劃痕測試

高溫納米壓痕300℃

斷裂韌性測試

橫向加載,泊松(song)比測試

3D/4D 楊氏(shi)模(mo)量/硬度mapping

&bull;考慮到靈活性(xing),iNano允(yun)許(xu)進行廣泛的測試,包括但不限于頻率特定(ding)實驗(yan),存儲(chu)和(he)損耗模(mo)量(liang),模(mo)量(liang)和(he)硬度(du)(Oliver和(he)Pharr)以(yi)及恒定(ding)應變率。

&bull;電磁執行器用(yong)于Nanomechanics生產的(de)所有(you)系統,包括iNano。 這些執行器是堅固(gu)的(de)線(xian)性裝置,固(gu)有(you)地解耦力(li)(li)和位移。 它(ta)們的(de)大力(li)(li)為50 mN,分辨率為3 nN,超低噪聲電流小于200 nN。

•iNano是時間常數為20微(wei)秒的商用(yong)納(na)米壓(ya)(ya)痕儀,可同時滿足(zu)大壓(ya)(ya)痕行程50μm,噪(zao)聲<0.1 nm,數字分(fen)辨率0.02 nm,漂移率<0.05nm / s的規格要(yao)求。

•為(wei)確保業(ye)內廣泛(fan),可靠的數據,iNano能夠實現0.1 Hz至1 kHz的動態激(ji)勵頻率。

&bull;樣品(pin)(pin)臺移動Z軸為25 mm,X為100 mm,Y軸為150 mm,可測(ce)試各種樣品(pin)(pin)高度和大樣品(pin)(pin)區。

•載荷(he)框(kuang)架(jia)剛(gang)度(du)> 1,000,000 N / m

•Jian端(duan)校準系統集成到軟件中,可實現快速,準確(que)和自(zi)動的Jian端(duan)校準。

•可用(yong)的方(fang)(fang)法(fa)包(bao)含聚合物,薄(bo)膜和生物材料(liao)的提示,方(fang)(fang)法(fa)和標準

•可用劃(hua)痕選項,大(da)(da)正(zheng)常載荷為(wei)(wei)50 mN,大(da)(da)劃(hua)痕距離(li)為(wei)(wei)2.5 mm,大(da)(da)劃(hua)痕速度為(wei)(wei)500μm/ s。

&bull;可用的遠程視頻選件在iNano腔內提(ti)供兩個(ge)不同的視角,除標準顯微鏡(jing)物鏡(jing)外還配有USB攝像頭。

使用可選的NanoBlitz拓(tuo)撲和斷層掃(sao)描軟件(jian)對材(cai)料進行3D和4D映射。

iNano系統(tong)(tong)(tong)由具有(you)電(dian)容傳感(gan)器(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)磁傳感(gan)器(qi)(qi)提(ti)供動力,可(ke)對(dui)各種材料進(jin)(jin)行(xing)精確測量(liang)。該(gai)系統(tong)(tong)(tong)旨在(zai)提(ti)供高(gao)吞(tun)吐量(liang)和輕松的(de)(de)數(shu)據(ju)(ju)分析。iNano帶有(you)多(duo)(duo)種標準(zhun)測試協議,用戶可(ke)以(yi)輕松對(dui)其進(jin)(jin)行(xing)編程以(yi)進(jin)(jin)行(xing)新穎的(de)(de)測量(liang)。iNano設(she)計產生的(de)(de)校準(zhun)多(duo)(duo)年穩定,因(yin)此來(lai)自多(duo)(duo)個站(zhan)點的(de)(de)多(duo)(duo)個儀器(qi)(qi)的(de)(de)測量(liang)數(shu)據(ju)(ju)保(bao)持一致。該(gai)系統(tong)(tong)(tong)占(zhan)地(di)面積小,可(ke)節(jie)省實驗室空(kong)間,并(bing)符合(he)ISO 14577以(yi)確保(bao)數(shu)據(ju)(ju)完(wan)整性。

除了(le)能夠在(zai)大學,實驗室和(he)研究所進行(xing)(xing)先進的研究外,還可(ke)以(yi)對以(yi)下材料和(he)行(xing)(xing)業進行(xing)(xing)納米壓痕測(ce)量:

? 制造質量控制

? 半導(dao)體晶圓和封裝

? 聚合物和塑料

? MEMS /納米級設備

? 陶瓷和玻璃

? 金屬和合金

? 醫藥品

? 涂料和油漆

? 電池和能量存儲

聚合物動態彈性(xing)性(xing)能(neng)的測試

描述像聚(ju)合物這(zhe)樣的(de)粘彈(dan)性(xing)材料(liao)是阻(zu)尼和振動控制應用的(de)關鍵。 納(na)米力(li)學(xue)公司的(de)核心技術可(ke)以將聚(ju)合物的(de)動態(tai)量(liang)表征為應用頻率的(de)函數。此外,該測試可(ke)以在生產的(de)零件上完成,并(bing)且不需要傳統DMA測試設備的(de)大體積(ji)和特定(ding)幾何狀。

Dynamic Mechanical Analysis(DMA)of Polymers by Oscillatory Indention

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脆性材料的壓痕斷裂韌性

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脆性(xing)材料中抗裂紋擴展性(xing)的(de)機械(xie)性(xing)能稱(cheng)為“斷裂韌性(xing)”。 傳(chuan)統(tong)上,由于樣品制備測(ce)量(liang)該(gai)性(xing)質可能是耗時(shi)且昂(ang)貴的(de)。使用立方(fang)角壓(ya)頭(tou)幾何形(xing)狀(zhuang)的(de)壓(ya)痕(hen)測(ce)試,通過提(ti)供(gong)快速結果和大數據集來增(zeng)強統(tong)計數據,從而有助(zhu)于測(ce)量(liang)裂縫(feng)。 此外,壓(ya)痕(hen)可以提(ti)供(gong)關(guan)于裂紋初始載(zai)荷(he)的(de)信息,可用于比較不同的(de)材料加工條件。 該(gai)技術(shu)也可以應用于硬涂層,因其沒有標準的(de)斷裂韌性(xing)幾何形(xing)狀(zhuang)。

高溫測試壓頭的Jian端材料
Nanomechanics在鉬支架上提供單晶碳化(hua)鎢Jian端(duan),用(yong)于(yu)高溫測(ce)試應用(yong)。 這些Jian端(duan)的額定(ding)溫度(du)超過1000°C,可(ke)提供各(ge)種Jian端(duan)幾何(he)形狀。這些Jian端(duan)還具有高導電(dian)性,因此(ci)適(shi)用(yong)于(yu)原位和(he)環境實驗(yan)。

聚合物的應變率靈敏度
聚(ju)合(he)(he)物(wu)的(de)(de)彈性(xing)形變(bian)(bian)通常(chang)表(biao)現出時(shi)間(jian)依賴性(xing)。此外,聚(ju)合(he)(he)物(wu)通常(chang)具有隨時(shi)間(jian)變(bian)(bian)化的(de)(de)塑性(xing)變(bian)(bian)形,即蠕變(bian)(bian)。 納米力學公司的(de)(de)儀器(qi)*通過(guo)應(ying)用應(ying)變(bian)(bian)率和(he)測(ce)量施加(jia)的(de)(de)壓力來表(biao)征(zheng)聚(ju)合(he)(he)物(wu)和(he)其他材料的(de)(de)蠕變(bian)(bian)。 這些測(ce)試的(de)(de)信息對塑料加(jia)工中的(de)(de)成形性(xing)和(he)擠出過(guo)程非常(chang)有用。

 

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連續剛度測(ce)量(CSM)

? 在壓痕周期內測量(liang)剛度(du)(du)和(he)其他材(cai)料性能(neng)CSM選(xuan)項包括在壓入過程中使探頭振(zhen)蕩,測量(liang)結果(guo)表征為深(shen)度(du)(du),力,時(shi)間(jian)或頻率的函數。該選(xuan)件(jian)隨附一個恒定(ding)應(ying)變率實驗,該實驗測量(liang)硬度(du)(du)和(he)模量(liang)隨深(shen)度(du)(du)或載(zai)荷的變化,這是整個學(xue)術界(jie)和(he)工業界(jie)常用的測試方(fang)法。

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NanoBlitz 3D快(kuai)速機(ji)械性能(neng)映射

? 快速(su)定量地繪(hui)制表面機械性能

? 由于增加了(le)觀(guan)察數,因此提(ti)供了(le)具有統計意義的(de)結(jie)果

? 測量粗糙表面和/或異質材料

NanoBlitz 3D選件根據x-y位(wei)置測量彈(dan)性模(mo)量和(he)硬度(du),在(zai)短(duan)時間內生成數(shu)千個數(shu)據點。定量數(shu)據與強大的可視化(hua)技(ji)術相結(jie)合,以評估微觀結(jie)構和(he)機械性能梯度(du)的差異。

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國際標準化的納米壓痕測試 iNano高精度臺式納米壓痕儀符合(he)國際(ji)認可的納米壓痕(hen)機(ji)械測試ISO 14577標準。

ISO 14577標準化(hua)硬度(du)和彈性模量測試(shi)

來自Nanomechanics的(de)iNano和iMicro納米(mi)壓(ya)痕(hen)儀符合(he)(he)ISO 14577標準化硬度測(ce)試。  作為參考,一些測(ce)量的(de)壓(ya)痕(hen)彈(dan)性模量對照(zhao)圖(tu)中右(you)側彈(dan)性模量的(de)傳統測(ce)量值(zhi)繪制(zhi),適用于(yu)從聚合(he)(he)物到(dao)金(jin)屬到(dao)剛性陶瓷的(de)各種材料。

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生(sheng)物相容性材料的復合剪切模量

本應用說明演示(shi)了iNano納米壓痕(hen)儀如何用于(yu)(yu)測試生物材料,并(bing)解釋了此類測試所需的特硬件,程序和(he)分(fen)析(xi)。 可(ke)食用明膠用于(yu)(yu)該演示(shi),因為(wei)它(ta)具有與組(zu)織相當的性質,可(ke)容易獲(huo)取(qu)并(bing)且(qie)制(zhi)備方法是可(ke)控和(he)可(ke)重復的。

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循環壓痕測試

除(chu)了(le)作為深(shen)度函數的屬性的動態測量(liang)之外,Nanomechanics還提供執行(xing)循(xun)(xun)環壓(ya)痕測試的能力(li)。 我們的優(you)勢是速(su)度,精度和(he)(he)準確性。 圖中(zhong)所示的每個加載 - 卸(xie)載循(xun)(xun)環在(zai)4秒內(nei)完成,從(cong)而(er)有效地測量(liang)彈性模量(liang)和(he)(he)硬度。

微球的納米力學測(ce)試(shi):顆粒壓碎應用

微球(qiu)(qiu)在(zai)現代生活中(zhong)有著(zhu)無(wu)數(shu)的(de)用(yong)途。 中(zhong)空微球(qiu)(qiu)用(yong)于(yu)降低制造(zao)材(cai)料的(de)密(mi)度。 在(zai)現代液相(xiang)色(se)譜中(zhong),分析物(wu)被(bei)迫通過填充(chong)有玻璃微球(qiu)(qiu)的(de)柱,從(cong)而使分析物(wu)的(de)組分基于(yu)它們可以(yi)通過柱的(de)速(su)度而分離。 在(zai)電子(zi)封裝中(zhong),金屬化(hua)聚合(he)物(wu)微球(qiu)(qiu)被(bei)包裝在(zai)一起以(yi)形成靈活,可靠的(de)連接。 在(zai)這(zhe)項(xiang)工作中(zhong)測試(shi)的(de)玻璃微球(qiu)(qiu)被(bei)摻(chan)入油(you)漆中(zhong)以(yi)增強外(wai)觀(guan)和耐擦(ca)傷性(xing)。 在(zai)所有這(zhe)些應用(yong)中(zhong),了(le)解微球(qiu)(qiu)的(de)機械(xie)性(xing)質是設計(ji)的(de)關鍵方面。 通過硬件和測程序的(de)相(xiang)對較小的(de)變(bian)化(hua),InForce 50成為一般的(de)小型壓縮(suo)測試(shi)系(xi)統。

薄膜(mo):基板立彈性模量測(ce)量

了解薄膜(mo)的(de)(de)機(ji)械(xie)性(xing)能對于設計(ji)可靠的(de)(de)部件(jian)非常重要。 無(wu)論(lun)您是在(zai)(zai)硬質基(ji)材(cai)上(shang)(shang)使(shi)(shi)用(yong)軟膜(mo),還是在(zai)(zai)柔(rou)性(xing)基(ji)材(cai)上(shang)(shang)使(shi)(shi)用(yong)硬膜(mo),Nanomechanics都擁有使(shi)(shi)用(yong)壓(ya)痕(hen)測試(shi),表征(zheng)基(ji)材(cai)立彈性(xing)模量的(de)(de)測試(shi)方法。 此外,我們(men)通過提供低于20nm厚度的(de)(de)數據在(zai)(zai)某些情況下小于10nm,推(tui)動薄膜(mo)測試(shi)的(de)(de)極限。

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薄膜:基板(ban)立彈性(xing)模(mo)量(liang)測量(liang)

了解(jie)薄膜的(de)機械性能對于(yu)(yu)設(she)計可靠的(de)部(bu)件非常重要。 無論您是(shi)在硬質基材(cai)上使(shi)(shi)用軟膜,還是(shi)在柔(rou)性基材(cai)上使(shi)(shi)用硬膜,Nanomechanics都擁有使(shi)(shi)用壓痕測試(shi),表征(zheng)基材(cai)立彈性模量(liang)的(de)測試(shi)方(fang)法。 此外,我們通(tong)過提供低于(yu)(yu)20nm厚度的(de)數(shu)據在某些(xie)情(qing)況下小(xiao)于(yu)(yu)10nm,推動薄膜測試(shi)的(de)極(ji)限。

AccuFilm™薄膜方(fang)案

? 通(tong)過(guo)校正基材(cai)對測量(liang)(liang)的(de)(de)影響,可以表征超薄(bo)(bo)膜AccuFilm薄(bo)(bo)膜方法(fa)選(xuan)件是(shi)一種測試方法(fa)包,帶有專用壓頭,用于使用CS模(mo)塊測量(liang)(liang)與基材(cai)無(wu)關的(de)(de)材(cai)料特性(xing)。AccuFilm使用Hay-Crawford模(mo)型校正基材(cai)的(de)(de)影響,以測量(liang)(liang)軟(ruan)基材(cai)上(shang)的(de)(de)硬膜或硬基材(cai)上(shang)的(de)(de)軟(ruan)膜。

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劃痕和磨損測試方法

? 當壓頭在樣品表(biao)面上(shang)移動時,向壓頭施加恒定(ding)或(huo)傾斜的載荷涂層和(he)薄膜(mo)要經歷許(xu)多挑戰薄膜(mo)強度及(ji)其與基材粘合(he)性的過程,例如化(hua)學機械拋光(CMP)和(he)引線鍵合(he)。劃痕測試允許(xu)表(biao)征多種材料,例如薄膜(mo),脆性陶(tao)瓷(ci)和(he)聚合(he)物。

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ProbeDMA™局(ju)部動態力學(xue)分析

? 對具有不適(shi)合標準DMA測試的(de)樣(yang)品幾何形狀和(he)/或材料(liao)(liao)體積的(de)軟聚合物和(he)其他材料(liao)(liao)進行動態(tai)機(ji)械分(fen)析(DMA)ProbeDMA選件通(tong)過測量(liang)存儲模(mo)(mo)量(liang),損(sun)耗(hao)模(mo)(mo)量(liang)和(he)損(sun)耗(hao)因子(zi)隨頻率的(de)變化,將納米壓頭轉變為局(ju)部動態(tai)力學分(fen)析儀器。ProbeDMA利用CSM模(mo)(mo)塊(kuai)和(he)iNano執行器的(de)精度(du)來提供與傳統DMA測試相匹(pi)配(pei)的(de)定量(liang)結(jie)果。它與300°C的(de)樣(yang)品加熱選項*兼容,如下所述:

300°C 樣(yang)品加熱(re)300°C樣(yang)品加熱(re)選件允許(xu)將樣(yang)品放(fang)置在室內進行均勻加熱(re),同(tong)時(shi)進行測試(shi)。

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更好的理解水平

iNano提供(gong)(gong)的(de)(de)總的(de)(de)客戶體驗不只是規格列表(biao)。 對于易(yi)于使用(yong)的(de)(de)軟(ruan)件和(he)可靠(kao)的(de)(de)硬件,以提供(gong)(gong)行業頂尖的(de)(de)客戶服務(wu)和(he)正常運行時間,iNano提供(gong)(gong)了強(qiang)大,直(zhi)接(jie),無(wu)憂的(de)(de)解決方案。

 

 

 

 

 

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