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高精度原子力顯微鏡

簡要描述:高精度原子力顯微鏡
ParkNX10為您帶來納米級分辨率的數據,值得您信賴、使用和擁有。
在SmartScanAuto有的(de)智能(neng)模(mo)式下,系統自動執行所有必要(yao)的(de)成像(xiang)操(cao)作,同(tong)時(shi)智能(neng)選擇好的(de)圖像(xiang)質量和掃描速度。這是通過(guo)Park的(de)技術才得以實現的(de)。它不僅可以為您(nin)節省(sheng)時(shi)間和金錢,還可以給您(nin)帶(dai)來優質的(de)研究結果。

  • 產品型號:NX10 Park
  • 廠商(shang)性質:代理商
  • 更新時間:2021-04-18
  • 訪(fang)  問  量:1228
詳(xiang)情介紹
品牌其他品牌產地類別進口
應用領域醫療衛生,電子,綜合

高精度原子力顯微鏡介紹:

Park NX10是非(fei)接(jie)觸式原子力顯微鏡,在延長探針(zhen)使用壽(shou)命的同時(shi),還能良好地保(bao)護您的樣品(pin)不(bu)受(shou)損壞。可彎曲(qu)的立 XY 掃(sao)描(miao)儀和(he)Z掃(sao)描(miao)儀可帶來良好的分辨率(lv)。

Park 原子(zi)(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡具有(you)綜合性的(de)掃描(miao)模式,因此您(nin)可以有(you)效地收集各種數據類(lei)型。從使用世界上的(de)真非接(jie)觸(chu)模式用來保持探針的(de)尖銳度和樣品的(de)完整性,到(dao)先進的(de)磁力(li)顯(xian)微(wei)鏡, Park 在原子(zi)(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡領域為(wei)您(nin)提供創新模式.

高精度原子力顯微鏡產品特點:

1)Smartscan智(zhi)能掃(sao)描(miao)模(mo)式,“1,2,3"點擊即可實現(xian)成像

2)Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式,更(geng)優越的力學形貌成像及各種電(dian)學測試

3)強大的內置(zhi)集(ji)成軟(ruan)(ruan)件系統,自帶(dai)LFM/液(ye)相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟(ruan)(ruan)件模式(shi)


基本技術特點:

a) 掃描范(fan)圍是 50μm x 50μm的 2D 掃描器,驅動 XY 軸(zhou)樣(yang)品臺

b) 高(gao)速Z軸掃描(miao)器,掃描(miao)范圍(wei) 15μm

c) 低噪聲 XYZ 位(wei)置傳感器(低噪聲XY閉環掃(sao)(sao)描可(ke)將正向掃(sao)(sao)描和反向掃(sao)(sao)描間隙降至掃(sao)(sao)描范(fan)圍的 0.15% 以下)

d) 自(zi)動(dong)步(bu)進(jin)掃描,滑動(dong)嵌入 SLD 鏡(jing)頭的(de)自(zi)主固(gu)定方式,

e) 垂(chui)直調節(jie)驅動 Z 平臺和聚焦(jiao)平臺

選項/模式

標準成像

化學性能

介電/壓電性能

?   實際非接觸式

?   接觸(chu)式

?   側向摩擦力顯微技術(LFM)

?   相位模式,輕敲模式

?   Pinpoint成像

?   功能(neng)化(hua)探針的化(hua)學力顯微(wei)鏡

?   電化學顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)

?  (EFM)靜電(dian)力顯微鏡

?  動態接(jie)觸式電子(zi)顯微鏡(jing)(EFM-DC)

?  (PFM)壓電力(li)顯(xian)微鏡

?   高電(dian)壓PFM

力測量

磁性能

熱性能

?   力-距離(F-D)光譜

?   力譜成像

?   磁力顯微鏡

?   可調(diao)AFM

?   掃描(miao)熱顯微鏡(SThM)

電性能


機械性能

?   Pinpoint 導電AFM(CP-AFM)

?   I-V譜(pu)線

?   掃(sao)描開爾文探針(zhen)顯微(wei)鏡(KPFM)

?   QuickStep掃描電容顯(xian)微鏡(SCM)

?   掃描(miao)電阻顯微(wei)鏡(SSRM)

?   掃描隧道顯微(wei)鏡(jing)(STM)

?   掃描隧道光譜(STS)

?   光電(dian)流測繪(PCM)

?   SICMcurrent-distance(I/d)Spectroscopy

?   Pinpoint模(mo)式

?   力調制顯(xian)微鏡(FMM)

?   壓痕(hen),納米(mi)刻蝕(shi)

?   高壓(ya)納米刻蝕

?   納米操縱
















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