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產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > 輪廓儀 > 光學輪廓儀 > Zeta-20三維光學輪廓儀

三維光學輪廓儀

簡(jian)要描述:非接觸式優點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸,保護了測量裝置,同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。
Zeta-20三維光(guang)學(xue)輪(lun)廓儀集(ji)成了六種(zhong)光(guang)學(xue)計量技(ji)術。 ZDot 測(ce)量模式同(tong)時采(cai)集(ji)高分辨(bian)率 3D 掃描和真彩色(se)無限對(dui)焦圖像。其(qi)他測(ce)量技(ji)術包括(kuo)白光(guang)干涉(she)法、Nomarski 干涉(she)對(dui)比(bi)顯(xian)微鏡和剪切干涉(she)法。 Zeta-20 也(ye)可用(yong)于樣品審查(cha)或自動缺陷(xian)檢測(ce)。

  • 產品型號(hao):Zeta-20
  • 廠商性(xing)質:代理商
  • 更新時間:2021-04-18
  • 訪  問  量:2190
詳情(qing)介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
應用領域醫療衛生,電子,航天,汽車,綜合

Zeta-20 三維光學輪廓儀的典型應用:

•MEMS(微機電系統)

•光伏(fu)太(tai)陽能電(dian)池

•微流(liu)體(ti)設備

•數(shu)據存儲磁盤倒邊

•激(ji)光(guang)打孔

•半導體晶圓級(ji)芯片級(ji)封(feng)裝(zhuang)

應用.png


多功能光學測試模組

•*ZDot點陣三維成像技術與強大的算法相結合,輕易獲得各種樣(yang)品表面(mian)信息(xi)生成高分辨率 3D 數(shu)據。

•ZIC 干涉反襯(chen)成像技(ji)術,實現納米級粗糙度表面的成像及(ji)分析。

•ZSI 白(bai)光差分干(gan)涉技術,垂(chui)直(zhi)方向分辨率可達埃級。

•ZX5 白(bai)光干涉(she)技(ji)術,大視場下納米級高度的理想(xiang)測量(liang)技(ji)術。

•ZFT 反射(she)光(guang)譜(pu)膜厚(hou)分析技術,集成寬頻(pin)反射(she)光(guang)譜(pu)分析儀,可測量 薄膜材料的厚(hou)度、折(zhe)射(she)率和反射(she)率。

Zeta-20三維光學輪廓儀優點:

•多功能(neng)——能(neng)夠在任何表面(mian)上進行多次測量

•特定應用軟件和算法

•對振動和樣品傾斜不(bu)敏感

•高(gao)光通量(liang)設計——實現其他系統無(wu)法進行的測(ce)量(liang)

•易于使用——用戶可以快速啟(qi)動和運(yun)行

混(hun)合反(fan)射(she)率(lv)表面測量:在太陽能電池表面氮化(hua)物涂層上的銀(yin)。銀(yin)反(fan)射(she)率(lv)大于(yu)90%,氮化(hua)物反(fan)射(she)率(lv)小于(yu)1%,兩者(zhe)反(fan)射(she)率(lv)差非常大,Zeta-20高動態范圍可(ke)輕松(song)測量混(hun)合反(fan)射(she)率(lv)表面。

微信截圖_20220309152905.png

在(zai)微(wei)機電(dian)系(xi)統上進行(xing)亞微(wei)米級(ji)臺階高度(du)測量(liang):可實現大面積高分辨率(lv)測量(liang)。

分(fen)析防偽(wei)透明特征:可在(zai)混合、不(bu)平整的表面上進行(xing)準確的 3D 輪廓分(fen)析(圖(tu)中是人民幣20元防偽(wei)標(biao)志)


光刻膠和(he)(he)金(jin)屬的臺階測(ce)量:ZDot 的多模(mo)式*地實現了金(jin)屬臺階和(he)(he)薄膜厚(hou)度(du)的同時測(ce)量。



激(ji)光切(qie)割:測(ce)(ce)(ce)量 LED 設備上激(ji)光切(qie)割的(de)(de)深度(du)。在非常(chang)低的(de)(de)對比度(du),高粗糙度(du)的(de)(de)表面測(ce)(ce)(ce)量。 測(ce)(ce)(ce)量空(kong)腔邊緣的(de)(de)材料堆積(ji),以確定(ding)它是否(fou)已流出劃(hua)線區域并流入 LED 器件的(de)(de)有源 區域。











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